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(타오위안, 대만 2020년 3월 2일 PRNewswire=연합뉴스) Chroma ATE는 디지털, 아날로그 및 혼합 신호 측정을 비롯해 무선 RF와 MCU 테스트를 통합한 True Wireless Stereo (TWS) 칩을 위한 완벽한 테스트 솔루션을 출시합니다. 경제적인 Chroma 3380 테스트 시스템은 가격에 민감한 IC 설계자를 만족시키는 반면, 첨단 Chroma 3680 테스트 시스템은 혁신적인 고감도 TWS 칩 테스트 수요를 충족시키기 위해 신속하고 포괄적인 테스트를 제공합니다.
TWS에 사용되는 칩은 최근 수년 동안 점점 더 광범위하게 사용되고 있습니다. TWS 칩은 초기에는 단순하게 이어폰에만 설치되고, 블루투스와 오디오 신호를 위한 간단한 IC만 처리했지만, 요즘은 스마트 스피커, 무선 스피커 및 심지어는 웨어러블 장치에도 적용되고 있습니다. 마찬가지로 TWS 칩 테스트는 단순 무선 블루투스, 디지털 및 신호 테스트에서 파워 서플라이, 메모리, 센서 등으로 확대되었습니다.
Chroma ATE 반도체 테스트 솔루션은 합리적인 가격에 높은 품질의 디지털 및 아날로그 반도체 테스트를 비롯해 수준 높은 소프트웨어와 하드웨어 통합으로 오랜 세월 업계로부터 인정받아 왔습니다. 더욱이 Chroma 3380 시리즈는 중국 MCU 테스트 시장에서 주도적인 입지를 점하고 있습니다. 또한, Chroma 3380 시리즈는 한 번에 모든 테스트 요구사항을 완료하기 위해 오디오 테스트에서 90dB 이상의 신호 대 잡음 비를 제공하는 내장 기능성을 바탕으로 포괄적인 블루투스 RF 테스트도 제공합니다. 프리미엄 및 고감도 제품을 위해 Chroma 3680 시리즈는 고속 신호 테스트를 실시하고, 정밀도가 높은 전압과 전류 측정 결과를 제공합니다. 이 시리즈의 혼합 신호 측정 하부 시스템은 110dB가 넘는 신호 대 잡음 비를 지원합니다. 또한, Chroma 3680은 특별히 설계된 신속한 연결/해제 RF 신호 연결 인터페이스로 고급 TWS 제품을 테스트할 때도 높은 안정성을 발휘합니다.
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출처: Chroma ATE Inc.
